VMM测量显微镜系列


● 视场宽阔,可得清晰无闪烁正像 ● 高精度测量,同时具有大测量范围和高精度,适用于各种测量 ● 可选用高NA物镜,满足长工作距离的测量要求 ● 照明装置(反射/透射)可选用高亮度LED的照明或卤素照明 ● 利用可变孔径光阑进行无衍射观察测量 ● 各类尺寸的标准工作台 ● 快速释放装置便于测量工件大或测量工件数量多的快速移动工作台 ● 高位目镜观察 ● 便捷CCD图像成像,可选配多种CCD数码相机

产品详情


        

                               偏光观察                                                                                  微分干涉对比观察

观察过滤后只有一个方向振动的光。适于观察具有                          在检测金属、液晶和半导体表面的微小划痕和阶差时很有效。

特殊光学特性的材料,如矿石和液晶。                        

    

                                       暗视场观察                                                                          亮视场观察

挡住直射到物体上的光,只观察散射光,通过高对比度能                        最普通的观察方式,直接观察从工件表面反射的光。

观察到在亮视场看不到的划痕和粉末。                    

新功能增强Z轴测量精度

● 辅助对焦(FA)

新近研发的分光棱镜辅助对焦(FA)提供更锐利的图案,可在Z轴测量期间提供精确对焦。由于不同物镜焦深差异导致的测量误差被降到最低。

对焦

前端对焦

后端对焦

规格

● 无限远系统,管镜200mm

● 倾斜角度30°,瞳孔距离55-75mm,正像

● 高眼点,大视场WF10/22

● 鼻轮螺纹M26X0.706

● Z轴的长度180mm,微动精度0.002mm,测量精度(at20℃),XY-轴的(2.5 0.02L)um,L=测量长度(mm)在没有放物体分辨率为0.001mm

● 12V50W反射卤素灯

● 3W高亮度LED光源

● 可配置辅助调焦装置(FA)

技术参数

型号

VMM-8Ⅰ型

VMM-8Ⅱ型

VMM-8 Ⅲ型

VMM-8

Ⅳ型

VMM-12Ⅰ型

VMM-12Ⅱ型

VMM-12Ⅲ型

VMM-12

Ⅳ型

镜筒

1×光学管径,双目目镜,带有CCD1/2靶面接口

观察图像

正像

观测方法

辅助对焦系统

-

-

头部或照明器FA系统

头部或照明器FA系统

-

-

头部或照明器FA系统

头部或照明器FA系统

微分干涉对比

可选微分观测对比

目镜

10X(视场直径:25mm),可选十字分划板,可选:视场直径:22mm

物镜(100x选配)

95mm 2x,
  5x,10x,
  20x,50x

60mm 5x,
  10x,20x,
  50x

95mm 2x,
  5x,10x,
  20x,50x

60mm

 5x,
  10x,20x,
  50x

95mm 2x,
  5x,10x,
  20x,50x

60mm 5x,
  10x,20x,
  50x

95mm 2x,
  5x,10x,
  20x,50x

60mm

 5x,
  10x,20x,
  50x

照明装置

反射照明

内置孔径光阑,LED光源,无极亮度调节,可选卤素照明

透射照明

白色LED照明,无极亮度调节

工作台

XY测量范围

200*100

200*100

200*100

200*100

300*200

300*200

300*200

300*200

快速释放装置

X轴和Y轴(标配)

调零开关

X轴和Y轴(标配)

数显计器

显示轴

2轴或3轴

分辩率

0.0005mm(可选0.00002mm)

具体配置和规格请来电咨询,18914729303